Poliarizacijos plokštumos sukimo matavimai

1. Darbo užduotis: Eksperimentiškai ištirti poliarizacijos plokštumos sukimo kampo priklausomybę nuo optiškai aktyvaus tirpalo koncentracijos bei nustatyti: žinomos koncentracijos tirpalo specifinį sukimą; tos medžiagos nežinomo tirpalo koncentraciją..
2. Aparatūra ir darbo metodas: CM-2 tipo poliarimetro optinė schema pavaizduota 3.15 paveiksle. Ją sudaro: lempa 1, šviesos filtras 2, kondensorius 3, poliarizatorius 4, chromatinė fazinė plokštelė 5, analizatorius 6, objektyvas 7, okuliaras 8, du lęšiai 9 ir kiuvetė 10. Lempos skleidžiama šviesa, praėjusi šviesos filtrą, kondensorių, poliarizatoriaus tiesiai poliarizuojama.
Poliarimetre panaudotas regėjimo lauko padalijimo į dvi dalis šviesumų sulyginimo principas. Regėjimo lauko padalinus į dvi dalis, laukų šviesumas sulyginamas, esant visiškam regėjimo lauko užtemdymui (2 pav.).
Iš poliarizatoriaus išėjusio šviesos pluoštelio viena dalis praeina per chromatinę fazinę plokštelę, kiuvetę (joje ir sukama šviesos poliarizacijos plokštuma) ir analizatorių, o kita pluoštelio dalis – tik per kiuvetę ir analizatorių. Tada poliarimetro regėjimo laukas atrodo taip (3pav.). Sukant analizatorių, sulyginamas abiejų lyginamųjų laukų šviesumas (žr. 2pav.).
Pastaba: Limbo skalės padalos vertė yra 1 0, o nonijaus skalės yra 0,50.
3. Darbo atlikimo principas: Pirmiausia į kiuvetę įpilame distiliuotą aktyvųjį tirpalą. Užsukame kiuvetę taip , kad neatsirastų oro burbuliukas ir atidarę poliarimetro dangtį 4...

Daugiau informacijos...

★ Klientai rekomenduoja

Šį rašto darbą rekomenduoja mūsų klientai. Ką tai reiškia?

Mūsų svetainėje pateikiama dešimtys tūkstančių skirtingų rašto darbų, kuriuos įkėlė daugybė moksleivių ir studentų su skirtingais gabumais. Būtent šis rašto darbas yra patikrintas specialistų ir rekomenduojamas kitų klientų, kurie po atsisiuntimo įvertino šį mokslo darbą teigiamai. Todėl galite būti tikri, kad šis pasirinkimas geriausias!